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光谱吸收指数SAI

    

光谱吸收特征由光谱吸收谷点 m与光谱吸收肩端 S1、S2 组成。

吸收谷点 m 与两个肩端组成的“非吸收基线”的距离可以表征为光谱吸收深度 h,基于此我们提出了光谱图像吸收指数 SAI。吸收位置的光谱值与相应基线值的比值可定义为光谱吸收指数SAI

光谱吸收指数(SAI)为非吸收基线在谱带的波长位置处的反射强度与谱带谷底的反射强度之比,实际上是谱带深度的另一种度量方式,可称为“相对吸收深度”,它用谱带谷底的光谱强度对吸收深度作归一化,因而减少了照度等变化所带来的干扰,增强了对地物的区分能力;

光谱吸收指数(SAI)可以表达为单散射反射率 的函数,平均单散射反射率可以进行混合像元光 谱分解成分的丰度反演,因此,可以通过获取一 系列典型地物的光谱吸收 [1]  指数,通过最小二乘法来反演地物光谱混合成分的含量,这对光谱识别和光谱混合分析具有重要的意义。

应用光谱吸收指数技术(SAI )可以进行矿物吸收特征的鉴别,主要是特定波长吸收深度图象生成,SAI图象与矿物的分布和丰度有定量关系。不同吸收波长位置的SAI“图象序列形成光谱吸收图象立方体,它构成了矿物识别分类与填图的特征参数集。典型吸收的SAI图象或系列光谱吸收的SAI图象组合进行分类得到成象光谱图 象“最终光谱单元”专题信息图。