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紫外/可见光谱仪测量氧化锌

    

氧化锌 (ZnO) 与常见的半导体触媒材料,二氧化钛 (TiO2) ,同样具有无毒性、低成本、取得容易的优点。在探讨材料特性对于光催化效率的影响,可以经过能阶的量测,预测光触媒材料的光催化效果,在太阳能电池产业,常见相关的研究。

为了计算能隙,必须找出薄膜厚度与吸收系数。利用紫外/可见光谱仪,得到穿透与反射的光谱资料。最后根据这些画出Tauc 图 (Tauc Plot),并藉以计算能隙的精准值。

样品前处理

首先,使用溶胶-凝胶法,以浸涂和旋涂技术,获得氧化锌 (ZnO) 薄膜。利用这个方法,将醋酸锌二水合物、乙醇胺、异丙醇、纯水,等原料,在室温下,提取 ZnO 置于玻璃基板上。接着将薄膜在225°C的温度下,预热15分钟。

紫外光谱仪/可见光谱仪

执行薄膜的量测时,可以利用具备 190nm - 850nm 波长范围的紫外/可见光分光光度计。以浸涂法处理的样品,有不错的穿透率。在可见光波长范围,大约是 92%。若是使用萤光光谱仪的光谱上,在波长380nm 及 430nm 处,可以观测到两个宽带。

能隙计算

最后,直接与间接的容许跃迁能隙,可以在 Tauc Plot上计算出来,分别为 3.2eV 与 3.0eV。


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