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基于光学干涉的光谱膜厚测量仪的原理

光谱膜厚测量仪基于薄膜干涉,这是一种物理现象:薄膜上下表面反射的光波会相互干扰,产生光的干涉现象,进而增强或减弱反射光

光学测量半导体涂层厚度

应用在其中的区域的涂层厚度和非常薄的涂层确定功能或效率是很多的。在智能手机、技术或眼镜镜片、现代屏幕、汽车零件和油漆以及数百种其他产品的制造中,层厚和薄涂层非常重要。

用光谱仪测量单层薄膜的厚度原理

使用光谱仪可以轻松测量单层薄膜的厚度。然而,请注意,这仅适用于约 0.3 至 60 μm 范围内的膜厚,并且需要膜材料的折射率来进行测

聚合物和纺织品的近红外分析

便携式 近红外光谱仪对聚合物的分析可能在各种应用中发挥至关重要的作用。最近的文献表明,人们正在关注将手持式 近红外光谱仪应用于各种聚合物的分析

拉曼光谱仪用在半导体的应用有哪些

在半导体产业,拉曼光谱仪能够协助业者研究半导体材料的基本特性。包含单一元素的半导体,如矽(Si)、锗(Ge),以及多成份组成的半导体,如镓砷(GaAs)半导体。在材料制造阶段,这些半导体材料的特性,将决定接下来晶圆制造、IC封装这些制程的品质,本阶段是最为重要的步骤。

拉曼显微光谱仪在碳纳米材料上的应用

纳米碳材,例如纳米碳管(CNT, Carbon Nanotube)和石墨烯 (Graphene),能提供优良的电子和物理性能。石墨烯(2004年首次发表于“科学”杂志)由高度结晶石墨的单一分子层构成

近红外光谱仪的定量分析

近红外光谱分析技术在近几十年内得到了快速的发展而且在多个应用领域得到了广泛的认可,它的魅力在于其可以在很短的时间内无需复杂的样品制备过程即可完成物质成份多组分的同步快速定量分析,

石墨烯结构拉曼显微镜应用

石墨烯的结构和键合使其非常适合拉曼光谱。石墨烯是一个原子厚的碳;碳原子排列成六边形晶格。sp 2碳键导致高度极化的π键,从而产生强烈的拉曼信号。

拉曼应用中PCA主成分分析原理

经过PCA处理后,可以明显的看到两组数据,一组位于第一象限,一组位于第二象限。第一组在第一象限,自相关性很好,说明样本基本相似,但是第二组的自相关性不是很好,说明测试中可能存在误差,需要进一步修正测试的样本。

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