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可见光光谱系统

VIS3-350-1000 可见光近红外反射率系统

Hightlight:
集成的可见光光谱分析仪
集成的氙灯,或者卤钨灯
薄膜测量,布料测量
半导体膜厚检测

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  • 产品介绍

优秀的可见光透射率/反射率测量系统


集成的可见光光谱分析仪

集成的氙灯,或者卤钨灯,作为光源

内置探头


可以实现纺织品颜色检测

纺织品透过率检测

眼镜透过率检测

半导体膜厚检测

LED灯泡检测等


应用举例一:布料反射率测量案例


image.png

测试系统搭建如上图

测试要求,计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比


1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源,光源由德国进口的灯泡

2. 中间是反射式积分球,

3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050,波长范围350-1050nm,分辨率最小0.6nm,美国产进口600线光栅

4. 搭配电脑,数据通过USB采集



测试一过程

1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声

2. 打开光源,设置1000ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱

3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率


1713655423722.png



应用举例二:高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量


测试一过程

1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声

2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱

3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(下面一条曲线),350-1000nm范围反射率72%, 样品2(上面一条曲线),350-1000nm范围反射率 82%,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率

1713655770034.png



测试二过程,相对于黑板

1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声

2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置黑板,采集参比光谱

3. 移除黑板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(上面一条曲线),350-1000nm范围相对于黑板的反射率, 样品2(下面一条曲线)相对于黑板的反射率,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率




应用举例三:薄膜材料的透射率测量


测试一过程

1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声

2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱

3. 移除白板,放置被测物,采集被测物薄膜的光谱


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